K.U.Leuven
  Search for Search in catalogue Search in electronic sources Search in library webpages K.U.Leuven search matrix
 
  
Gebruik deze url om te verwijzen naar dit item / Use this url to link to this item:
http://hdl.handle.net/1979/971

Titel 
Title 
Low-k dielectric reliability in copper interconnects
Auteur 
Author 
Li, Yunlong
Promotor 
Supervisor 
Maex, Karen
Co-promotor 
Co-supervisor 
Groeseneken, Guido
Juryleden 
Members of the jury 
Froyen, Ludo
Willems, Yves
Afanasiev, Valeri
Puers, Robert
Beirlant, Jan
Mertens, Robert Pierre
Zsolt, Tõkei
Barth, Hans-Joachim
Datum verdediging 
Date doctoral defence 
21-Sep-2007
Summary The interconnect module is one of the most important processing modules in a ULSI CMOS technology. It takes care of the transmission of the signals between the active devices in semiconductor chips. In the past, aluminum was used as metal interconnection material, whereas SiO2-based dielectrics were used as insulators between the metal lines. By the continuous scaling of the critical dimensions (C more/meer ...
Samenvatting De interconnectiemodule is een van de belangrijkste procesmodules van een ULSI CMOS technologie. Zij zorgt voor de transmissie van de signalen tussen de actieve devices in halfgeleiderchips. In het verleden werd hiervoor Aluminium gebruikt als interconnectiemateriaal, en een SiO2-gebaseerd dielectricum als isolator tussen de interconnectiebaantjes. Door de verdergaande schaalverkleining lopen de R more/meer ...
Summary for the 
general public 
With the semiconductor technology advancement, various new materials are introduced into integrated chips (IC) to improve the chip performance. Low-k dielectrics are a kind of such new materials to reduce the time delay in signal transmission. However, the influence of new low-k materials on IC reliability needs detailed investigation. This PhD work investigates the fundamental reliability issues more/meer ...
Inhoudstafel 
Table of Contents 
Contents
1 Introduction 1
1.1 Motivation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1
1.2 Research Objectives . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3
1.3 Outline . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 4
2 State of The Art 7
2.1 Introduction . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9
2.2 Copper Damascene Integration . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9
2.2.1 Single Damascene Integration . . . . . . . . . . . . . . . . 11
2.2.2 Dual Damascene Integration . . . . . . . . more/meer ...
URI http://hdl.handle.net/1979/971
Type Doctoral thesis
Doctoraatsthesis
Accessibility Publicly accessible
Toegankelijkheid Publiek toegankelijk

Bestanden in dit item / Files in This Item:

Bestand / File Grootte / SizeFormaat / Format
PhD_Thesis_YunlongLi.pdf10513KbAdobe PDFView/Open

SFX Query

 

K.U.Leuven - Claim Copyright © Katholieke Universiteit Leuven / LIBIS-bibliotheekinformatica